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光炎量子效率光传感器特性分析仪

光炎量子效率光传感器特性分析仪

简要描述:光焱科技新推出光炎量子效率光传感器特性分析仪PD-QE测试系统,针对第三代半导体材料Photodiode/Photodetector的相关特性测试,整合新高精密直流可耐电压侦测技术,与传统交流模式下测量EQE使用锁相放大器、电压无法加过12V相比,该系统高可输出1000V高压,电流量程为2pA,精度达0.1fA,可满足客户多种量测需求。

产品型号: PD-QE

所属分类:光焱量子效率分析仪

更新时间:2021-12-17

厂商性质:经销商

详情介绍
品牌自营品牌应用领域医疗卫生,化工,生物产业,能源,电子

光焱科技新推出PD-QE测试系统,针对第三代半导体材料Photodiode/Photodetector的相关特性测试,整合新高精密直流可耐电压侦测技术,与传统交流模式下测量EQE使用锁相放大器、电压无法加过12V相比,该系统高可输出1000V高压,电流量程为2pA,精度达0.1fA,可满足客户多种量测需求。


光焱科技新推出PD-QE测试系统,针对第三代半导体材料Photodiode/Photodetector的相关特性测试,整合新高精密直流可耐电压侦测技术,与传统交流模式下测量EQE使用锁相放大器、电压无法加过12V相比,该系统高可输出1000V高压,电流量程为2pA,精度达0.1fA,可满足客户多种量测需求。

设备特点

  1. 使用均匀光斑的"照度模式" (Irradiance Mode) 符合ASTM E1021;

  2. 取代传统聚焦小光斑,可以测试um等级的光电传感器;

  3. 均匀光斑可以克服色散差与像差的问题,可准确测得EQE曲线;

  4. 可搭配多种探针台系统,实现非破坏性的快速测试;

  5. 集成的光学与测试系统,提高系统搭建效率;

  6. 一键式自动化测试软件,自动全光谱校正与测量,工作效率高。

测试特性

  • 外部量子效率EQE

  • 光谱响应SR

  • I-V曲线测量

  • NEP光谱测量

  • D*光谱测量

  • Noise-current-frequency响应图 (A/Hz-1/2; 0.01Hz~1,000Hz)

  • Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析








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