光炎量子效率光传感器特性分析仪

简要描述：光焱科技新推出光炎量子效率光传感器特性分析仪PD-QE测试系统，针对第三代半导体材料Photodiode/Photodetector的相关特性测试，整合新高精密直流可耐电压侦测技术，与传统交流模式下测量EQE使用锁相放大器、电压无法加过12V相比，该系统高可输出1000V高压，电流量程为2pA，精度达0.1fA，可满足客户多种量测需求。

产品型号： PD-QE

所属分类：光焱量子效率测量系统

更新时间：2023-08-03

厂商性质：经销商

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品牌	其他品牌	应用领域	医疗卫生,化工,生物产业,能源,电子

光焱科技新推出PD-QE测试系统，针对第三代半导体材料Photodiode/Photodetector的相关特性测试，整合新高精密直流可耐电压侦测技术，与传统交流模式下测量EQE使用锁相放大器、电压无法加过12V相比，该系统高可输出1000V高压，电流量程为2pA，精度达0.1fA，可满足客户多种量测需求。

设备特点

使用均匀光斑的"照度模式" (Irradiance Mode) 符合ASTM E1021；
取代传统聚焦小光斑，可以测试um等级的光电传感器；
均匀光斑可以克服色散差与像差的问题，可准确测得EQE曲线；
可搭配多种探针台系统，实现非破坏性的快速测试；
集成的光学与测试系统，提高系统搭建效率；
一键式自动化测试软件，自动全光谱校正与测量，工作效率高。

测试特性

外部量子效率EQE
光谱响应SR
I-V曲线测量
NEP光谱测量
D*光谱测量
Noise-current-frequency响应图 (A/Hz-1/2; 0.01Hz~1,000Hz)
Flicker noise, Johnson Noise, Shot noise 分析

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