光炎量子效率分析仪图像传感器测试仪

简要描述：光炎量子效率分析仪图像传感器测试仪是一个商用 CMOS 图像传感器测试仪。SG-A 可以提供*的 CMOS 图像传感器参数表征，如全光谱量子效率 QE、整体系统增益 K、时间性暗噪声、信噪比、灵敏度阈值、饱和容量、动态范围、DSNU、PRNU、线性误差和射线角 CRA。

产品型号： SG-A

所属分类：光焱量子效率分析仪

更新时间：2021-11-19

厂商性质：经销商

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详情介绍

品牌	自营品牌	应用领域	医疗卫生,化工,生物产业,能源,电子

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　　SG-A 系统是一个商用 CMOS 图像传感器测试仪。SG-A 可以提供*的 CMOS 图像传感器参数表征，如全光谱量子效率 QE、整体系统增益 K、时间性暗噪声、信噪比、灵敏度阈值、饱和容量、动态范围、DSNU、PRNU、线性误差和射线角 CRA。被测设备可以是几种类型的 CMOS 图像传感器模块。检验程序符合 EMVA 1288 标准。因此，SG-A CMOS 图像传感器测试仪可用于进行晶圆级光学检测、加工参数控制、微透镜设计、微透镜验证。SG-A CMOS 图像传感器测试仪的高度准直光束（<1°）可以克服传统光学系统（如积分球系统）无法解决的新制造工艺的检测困难。这些工艺包括小像素（< 1 um）、BSI 和 3D 堆叠、微透镜、新的拜耳阵列设计等等。

特色

无损光学检测。
高度准直梁角 / 高准直波束角 < 0.05 度, < 0.1 度, < 0.5 度, < 1 度, < 3 度 (不同型号)
高均匀光束点：≥ 99%。
光的不稳定性 ≤1%。
高动态范围测试能力：80dB ~ 140dB（不同型号）。
可以测试 CMOS 图像传感器参数。量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流 / 噪声、信噪比、饱和容量、线性误差（LE）、DCNU（暗电流不均匀性）、PRNU（光响应不均匀性）、CRA（射线角）。
全光谱波长范围：300nm – 1100nm 或 350nm ~ 1000nm（PTC）。
波长可扩展至 1700 纳米以上。
DUT 封装：CIS 模块，PCB 板级，CIS 摄像头，有 / 无微透镜。
SG-A 和 DUT 之间的 “直接 “或 “握手 “通信协议。
定制的测试夹具和平台（手动或自动，多 6 轴）。
强大的分析软件 ARGUS®。
应用：指纹识别（CIS + 镜头，CIS + 准直器，TFT 阵列传感器）CIS 的微透镜设计，晶圆级光学检测，CIS DSP 芯片算法开发，Si TFT 传感器面板，飞行时间相机传感器，接近传感器（量子效率，灵敏度，线性度，SNR 等），d-ToF 传感器，i-ToF 传感器，多光谱传感器，环境光传感器（ALS），指纹显示（FoD）传感器。

规格

SG-A 型 CMOS 图像传感器测试仪的功能非常强大，因此相关的规格和配件也非常齐全。请与我们联系，以了解更多细节和选择咨询, 以下是主要的能力规格：

– 全光谱的波长范围：300 – 1100 纳米或 350 – 1000 纳米（PTC）。
– 波长范围可以扩展到 1700 纳米或更高。
– 单一波长源。470 纳米, 530 纳米, 630 纳米, 940 纳米（±5纳米）或自定义。
– 动态范围：80dB、100dB 或 140dB。
– 测试夹具：DUT ≤ 100mm x 100mm x 30mm (高度)[基本型] 或订制。
– 平台：无，手动 3 轴或 6 轴（手动 + 自动）平台（可订制)

应用范围

指纹识别（CIS + 镜头，CIS + 准直器，TFT-阵列传感器)
CIS 的微透镜设计，晶圆级光学检查
CIS DSP 芯片的算法开发
Si TFT 传感器面板
飞行时间相机传感器
近距离感应器 (量子效率、灵敏度、线性度、SNR 等)
d-ToF 传感器，i-ToF 传感器
多光谱传感器
环境光传感器 (ALS)
指纹显示（FoD）传感器

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光炎量子效率分析仪图像传感器测试仪

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