光炎量子效率分析仪图像传感器测试仪

SG-A光炎量子效率分析仪图像传感器测试仪特色：

无损光学检测。

高度准直梁角/高准直波束角<0.05度，<0.1度，<0.5度，<1度，<3度(不同型号)

高均匀光束点≥99%。

光的不稳定性≤1%。

高动态范围测试能力：80dB~140dB（不同型号）。

可以测试CMOS图像传感器参数。量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流/噪声、信噪比、饱和容量、线性误差（LE）、DCNU（暗电流不均匀性）、PRNU（光响应不均匀性）、CRA（射线角）。

全光谱波长范围：300nm–1100nm或350nm~1000nm（PTC）。

波长可扩展至1700纳米以上。

DUT封装：CIS模块，PCB板级，CIS摄像头，有/无微透镜。

SG-A和DUT之间的“直接“或“握手“通信协议。

定制的测试夹具和平台（手动或自动，多6轴）。

强大的分析软件ARGUS®。

应用：指纹识别（CIS+镜头，CIS+准直器，TFT阵列传感器）CIS的微透镜设计，晶圆级光学检测，CIS DSP芯片算法开发，Si TFT传感器面板，飞行时间相机传感器，接近传感器（量子效率，灵敏度，线性度，SNR等），d-ToF传感器，i-ToF传感器，多光谱传感器，环境光传感器（ALS），指纹显示（FoD）传感器。

规格：

SG-A型CMOS图像传感器测试仪的功能非常强大，因此相关的规格和配件也非常齐全。请与我们联系，以了解更多细节和选择咨询,以下是主要的能力规格：

–全光谱的波长范围：300–1100纳米或350–1000纳米（PTC）。

–波长范围可以扩展到1700纳米或更高。

–单一波长源。470纳米,530纳米,630纳米,940纳米（±5纳米）或自定义。

–动态范围：80dB、100dB或140dB。

–测试夹具：DUT≤100mmx100mmx30mm(高度)[基本型]或订制。

–平台：无，手动3轴或6轴（手动+自动）平台（可订制)

应用范围：

指纹识别（CIS+镜头，CIS+准直器，TFT-阵列传感器)

CIS的微透镜设计，晶圆级光学检查

CIS DSP芯片的算法开发

Si TFT传感器面板

飞行时间相机传感器

近距离感应器(量子效率、灵敏度、线性度、SNR等)

d-ToF传感器，i-ToF传感器

多光谱传感器

环境光传感器(ALS)

指纹显示（FoD）传感器