光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪是商用CMOS图像传感器测试仪，可以提供全面的CMOS图像传感器参数表征。被测设备可以是几种类型的CMOS图像传感器模块。检验程序符合EMVA 1288标准。因此，可用于进行晶圆级光学检测、加工参数控制、微透镜设计、微透镜验证。SG-A CMOS图像传感器测试仪的高度准直光束（<1°）可以克服传统光学系统（如积分球系统）无法解决的新制造工艺的检测困难。

详情介绍

特色

*无损光学检测。

*高度准直梁角 /高准直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,9<3度 (不同型号)

*高均匀光束点：≥ 99%。

*光的不稳定性≤1%。

*高动态范围测试能力：80dB~140dB（不同型号）。

*可以测试CMOS图像传感器参数。量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流/噪声、信噪比、饱和容量、线性误差（LE）、DCNU（暗电流不均匀性）、PRNU（光响应不均匀性）、CRA。

*全光谱波长范围:300nm-1100nm或350nm~1000nm（PTC）。

*波长可扩展至1700纳米以上。

*DUT 封装：CIS 模块，PCB 板级，CIS 摄像头，有/无微透镜。

*SG-A和DUT之间的 “直接 “或 “握手 “通信协议。

*定制的测试夹具和平台（手动或自动，多6轴）。

*功能完整的分析软件ARGUS®。

*应用：指纹识别（CIS+镜头，CIS+准直器，TFT阵列传感器）CIS的微透镜设计，晶圆级光学检测，CIS DSP芯片算法开发，Si TFT传感器面板，飞行时间相机传感器，接近传感器（量子效率，灵敏度，线性度，SNR等），d-ToF传感器，i-ToF传感器，多光谱传感器，环境光传感器（ALS），指纹显示（FoD）传感器。

规格

光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪的功能很好，因此相关的规格和配件也很齐全。更多细节可再了解。

以下是主要的能力规格:

– 全光谱的波长范围：300-1100nm或350-1000nm（PTC）

– 波长范围可以扩展到1700 nm或更高

– 单一波长源：470nm、530nm、630nm、940nm（±5nm），或自定义

– 动态范围：80dB、100dB或140dB

– 测试夹具：DUT≤100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定制

– 平台：非、手动3轴，或6轴（手动+自动）平台（可定制）

应用范围

光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪可用于：

*指纹识别（CIS+镜头、CIS+准直器、TFT-阵列传感器)

*CIS的微透镜设计，晶圆级光学检查

*CIS DSP 芯片的算法开发

*Si TFT 传感器面板

*飞行时间相机传感器

*近距离感应器 (量子效率、灵敏度、线性度、SNR等。)

*d-ToF传感器、i-ToF传感器

*多光谱传感器

*环境光传感器 (ALS)

*指纹显示（FoD）传感器