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光炎量子效率图像传感器测试仪

光炎量子效率图像传感器测试仪

简要描述:光炎量子效率图像传感器测试仪是商用CMOS图像传感器测试仪,可以提供全面的CMOS图像传感器参数表征。被测设备可以是几种类型的CMOS图像传感器模块。检验程序符合EMVA 1288标准。因此,可用于进行晶圆级光学检测、加工参数控制、微透镜设计、微透镜验证。SG-A CMOS图像传感器测试仪的高度准直光束可以克服传统光学系统(如积分球系统)无法解决的新制造工艺的检测困难。

产品型号: SG-A CMOS

所属分类:光焱量子效率分析仪

更新时间:2021-11-22

厂商性质:经销商

详情介绍
品牌自营品牌应用领域医疗卫生,化工,生物产业,能源,电子
品牌自营品牌应用领域电子
全光谱的波长范围300-1100nm或350-1000nm(PTC)动态范围80dB、100dB或140dB

光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪是商用CMOS图像传感器测试仪,可以提供全面的CMOS图像传感器参数表征。被测设备可以是几种类型的CMOS图像传感器模块。检验程序符合EMVA 1288标准。因此,可用于进行晶圆级光学检测、加工参数控制、微透镜设计、微透镜验证。SG-A CMOS图像传感器测试仪的高度准直光束(<1°)可以克服传统光学系统(如积分球系统)无法解决的新制造工艺的检测困难。

详情介绍

特色

*无损光学检测。

*高度准直梁角 /高准直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,9<3度 (不同型号)

*高均匀光束点:≥ 99%。

*光的不稳定性≤1%。

*高动态范围测试能力:80dB~140dB(不同型号)。

*可以测试CMOS图像传感器参数。量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流/噪声、信噪比、饱和容量、线性误差(LE)、DCNU(暗电流不均匀性)、PRNU(光响应不均匀性)、CRA。

*全光谱波长范围:300nm-1100nm或350nm~1000nm(PTC)。

*波长可扩展至1700纳米以上。

*DUT 封装:CIS 模块,PCB 板级,CIS 摄像头,有/无微透镜。

*SG-A和DUT之间的 “直接 “或 “握手 “通信协议。

*定制的测试夹具和平台(手动或自动,多6轴)。

*功能完整的分析软件ARGUS®。

*应用:指纹识别(CIS+镜头,CIS+准直器,TFT阵列传感器)CIS的微透镜设计,晶圆级光学检测,CIS DSP芯片算法开发,Si TFT传感器面板,飞行时间相机传感器,接近传感器(量子效率,灵敏度,线性度,SNR等),d-ToF传感器,i-ToF传感器,多光谱传感器,环境光传感器(ALS),指纹显示(FoD)传感器。

规格

光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪的功能很好,因此相关的规格和配件也很齐全。更多细节可再了解。

以下是主要的能力规格:

– 全光谱的波长范围:300-1100nm或350-1000nm(PTC)

– 波长范围可以扩展到1700 nm或更高

– 单一波长源:470nm、530nm、630nm、940nm(±5nm),或自定义

– 动态范围:80dB、100dB或140dB

– 测试夹具:DUT≤100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定制

– 平台:非、手动3轴,或6轴(手动+自动)平台(可定制)

应用范围

光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪可用于:

*指纹识别(CIS+镜头、CIS+准直器、TFT-阵列传感器)

*CIS的微透镜设计,晶圆级光学检查

*CIS DSP 芯片的算法开发

*Si TFT 传感器面板

*飞行时间相机传感器

*近距离感应器 (量子效率、灵敏度、线性度、SNR等。)

*d-ToF传感器、i-ToF传感器

*多光谱传感器

*环境光传感器 (ALS)

*指纹显示(FoD)传感器



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